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FT-351系列高温四探针电阻率测试仪

FT-351 高温四探针电阻率测试仪分为 FT-351A、FT-351B、FT-351C 三个型号,是将四探针法与高温系统结合的检测设备,适用于企业、高校、科研部门分析半导体材料在高温环境下的方阻、电阻率与电导率,配有气氛保护功能,可通过 PC 软件完成数据的分析、控制,以及温度与电性能数据的曲线图谱查看,还支持自动正 / 负电流输出与电压测量。
三个型号的设备测量量程有差异,测试温度可按需选购常温到 1200℃的不同档位,控温准确、升温稳定,采用复合陶瓷纤维作为保温材料,标配钨或钼电极探针,还可选购电脑打印机、标准电阻、不同规格的高温样品平台、电极等配件,以及延保服务、计量证书等附加服务。
设备的样品有尺寸要求,工作电源根据温度档位选择,整体适配不同的半导体材料高温电性能测试需求

产品概述

FT-351 系列高温四探针电阻率测试仪是瑞柯微深耕粉体与新材料测试领域的产品,采用四探针测量技术与高温控制系统,搭配气氛保护功能及 PC 分析软件,可捕捉温度与电阻、电阻率、电导率的动态变化曲线,为材料研发与质量控制提供可靠数据支撑。产品符合单晶硅物理测试标准及美国 A.S.T.M 标准,服务于科研机构、高等院校及企业研发部门。

 

产品优势

  1. 可靠测量:控温精度 ±1℃,冲温值≤1-3℃,方块电阻与电阻率测量覆盖多量程范围,适配不同导电特性材料
  2. 高温适配:支持常温至 1200℃多档位温度选购,采用复合陶瓷纤维高温材料,真空成型不掉粉
  3. 智能便捷:PC 软件集成数据采集、曲线绘制、报表生成功能,支持单位换算与参数自定义设置
  4. 稳定可靠:标配钨 / 钼电极探针与陶瓷样品台,直线型 4mm 探针间距设计,确保测试接触稳定
  5. 灵活适配:支持固态、液态样品测试,可根据场景定制高温样品平台与电极组合

 

技术参数

规格型号

FT-351A

FT-351B

FT-351C

方块电阻

10^-5~2×10^5Ω/□

10^-6~2×10^5Ω/□

10^-4~10^7Ω/□

电阻率

10^-5~2×10^5Ω-cm

10^-6~2×10^5Ω-cm

10^-4~10^7Ω-cm

测试电流

0.1μA;1μA;10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

10mA ---200pA

温度选购

常温--200℃;400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;

温度精度

冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C

升温速度

常温开始400℃--800℃需要15分钟;800℃-1200℃需要30分钟;

探针间距

直线型探针,探针间距:4mm;

样品要求

样品长度要求≥13mm  样品宽≥2mm或直径≥13mm

 

适用范围

适用于导电陶瓷、硅锗单晶(棒料 / 晶片)、硅外延层、扩散层、离子注入层、导电玻璃(ITO)等导电薄膜新材料,可测量方块电阻、电阻率与电导率参数,覆盖半导体、新能源、粉末冶金、电子材料等多个行业的研发与质检场景。

 

操作流程

  1. 开启电源,确保设备供电稳定
  2. 固定样品与测试平台,调节探针接触良好
  3. 通过 PC 软件设定温度、电流等测试参数
  4. 启动测量,实时采集数据并生成变化曲线
  5. 导出报表,完成数据归档与分析

 

标准配置

高温箱 ×1 台、四探针电阻率测试仪 ×1 套、高温治具 ×1 套、电源线 ×2 条、数据线 ×2 条、含 PC 软件的 U 盘 ×1 个、说明书 + 保修卡 + 合格证 ×1 份

 

增值服务

  • 仪器租赁:短期 / 长期灵活租赁方案,降低初期投入
  • 技术升级:为现有设备提供性能升级服务,延长使用寿命
  • 延保服务:1-3 年有偿延保,覆盖主要部件维修与更换
  • 样品测试:实验室提供样品测试与数据报告服务
  • 计量认证:代客办理三方计量证书,确保检测合规
  • 定制服务:按需定制高温样品台、电极探针等个性化配件

 

 

《四探针法电阻率测试仪器的应用及选型方案》

 

 

 

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