瑞柯析理四探针测试仪系列:功能对比与选型指南

                                                  瑞柯析理四探针测试仪系列:功能对比与选型指南

瑞柯析理旗下共有 5 大系列四探针测试仪,均基于四探针法或范德堡测量原理,遵循 ASTM、GB/T1551 等标准,主要用于检测材料的方块电阻、电阻率、电导率等电性能参数。各系列分工明确:FT-3110 系列主打全自动测量与宽适配场景,FT-3120B 系列为半自动款适配实验室点测,FT-330/340 系列覆盖宽量程基础测试,FT-351 系列专注高温环境下的电性能分析,FT-361/371/394C 系列则细分低阻、高阻及手持式移动测试需求,均支持 PC 软件数据处理,可搭配多种配件与增值服务,适配实验室研发、生产线批量检测及现场移动测试等不同场景。

 

产品功能对比表格

产品系列 主要功能 测量量程(方块电阻 / 电阻率) 关键特性 适配场景
FT-3110 系列(全自动) 全自动测量,2D/3D 扫描图谱显示,温湿度监测,PC 软件数据采集分析

10⁻⁶~2×10⁵Ω/□ /

10⁻⁶~2×10⁵Ω-cm

(FT-3110B 量程更宽)

电阻精度≤0.3%,单点重复性≤0.5%,探针压力可调,多重防护,适配 2-12 寸晶圆及定制方片 实验室研发、生产线批量检测
FT-3120B 系列(半自动) 步进系统自动控探头接触,自动 / 手动点测,重复测试 / 多点面测,PC 软件数据处理与报表输出 各型号量程有差异 降低人为误差,限位量程、压力保护,探针间距与晶片尺寸可选购 实验室电性能分析
FT-330/340 系列 宽量程测量,自动正 / 负电流输出,温度补偿,自动量程转换,中英文切换

10⁻⁵~2×10⁵Ω/□ /

10⁻⁵~2×10⁵Ω-cm

电阻精度≤0.3%,标准样片误差≤4%,液晶直读多参数,支持 PC 软件联动 生产企业、高校、科研部门基础检测
FT-351 系列(高温) 高温环境下电性能测试,气氛保护,温度 - 电性能曲线图谱查看,自动正 / 负电流输出 各型号量程有差异 控温(常温 - 1200℃可选),复合陶瓷纤维保温,标配钨 / 钼电极探针 高温场景下半导体材料研发检测
FT-361/371/394C 系列 细分低阻 / 高阻 / 手持款,恒流输出,中英文切换,液晶显示,PC 软件数据处理

FT-361B:10⁻⁶~2×10⁵Ω/□ / 10⁻⁶~2×10⁵Ω-cm;

FT-371A:10⁻⁴~10⁷Ω/□ / 10⁻⁴~10⁷Ω-cm;

FT-394C:10⁻³~2.00×10⁴Ω/□ / 10⁻³~2.00×10⁴Ω-cm

供电灵活(AC220V / 充电电池),配件可选,适配固定 / 移动测试 FT-361B/371A:实验室固定测试;FT-394C:现场移动测试

 

 

机型 + 配件组合参考

参考机型

优先选 FT-371A 高阻型(覆盖 10⁻⁴~10⁷Ω/□方块电阻、10⁻⁴~10⁷Ω-cm 电阻率,适配多阻值场景);

若测试阻值集中在 10⁻⁶~2×10⁵Ω/□,可选 FT-3110B 全自动款(支持 2D/3D 扫描,适配批量检测)。

主要配件

  • 主要配件:碳化钨探针(耐用,适配实验室长期使用)+ 定制测试平台(适配不同尺寸样品)
  • 数据处理:PC 分析软件(完成数据采集、处理与报表输出)
  • 增值服务:计量证书(确保测试精度合规)+ 1-3 年延保(降低维护成本)

 

 

瑞柯析理实验室固定测试(方块电阻 / 电阻率 / 电导率)配置清单 + 选型说明

一、配置清单(分机型)

配置方案一:FT-371A 高阻型(多阻值适配)

类别 配置项 数量 用途说明
主机 FT-371A 四探针测试仪 1 台 覆盖 10⁻⁴~10⁷Ω/□方块电阻、10⁻⁴~10⁷Ω-cm 电阻率,支持电导率换算,恒流输出 + 自动量程转换
主要配件 碳化钨耐磨探针 1 套 高硬度抗磨损,适配实验室长期重复测试,保障接触稳定性
  多功能测试平台(含样品夹具) 1 台 适配 2-12 寸晶圆、方片等不同尺寸样品,可调节固定间距
数据处理 PC 分析软件 1 套 支持数据采集、曲线分析、报表导出(Excel/Word 格式),中英文切换
增值服务 计量证书 1 份 确保测试精度合规,满足科研 / 检测报告要求
  2 年延保服务 1 份 含上门检修、配件更换折扣,降低长期维护成本

 

配置方案二:FT-3110B 全自动款(批量 / 高精度扫描)

类别 配置项 数量 用途说明
主机 FT-3110B 全自动四探针测试仪 1 台 覆盖 10⁻⁶~2×10⁵Ω/□方块电阻、10⁻⁶~2×10⁵Ω-cm 电阻率,支持 2D/3D 扫描图谱
主要配件 可调压力探针组件 1 套 探针压力 0.1-0.5N 可调,避免损伤样品,适配脆弱材料测试
  高精度自动定位测试平台 1 台 定位精度≤0.01mm,支持多点面测、重复测试,降低人为误差
数据处理 智能数据分析软件(含电脑适配包) 1 套 支持温湿度联动监测、扫描路径自定义、数据溯源追踪
增值服务 计量证书 + 年度校准服务 1 套 含初次计量 + 1 次年度校准,持续保障测试精度
  3 年延保 + 技术培训 1 份 含 2 次到场技术培训、维修通道,解决使用问题

 

FT‑371A/FT‑361/FT‑330/340 系列对比与选型指南

基于实验室固定测试场景,以下从主要参数、功能、应用场景及选型逻辑展开,帮你锁定适配机型。


一、参数对比表(匹配 10⁻⁵~10⁵Ω/□量程需求)

对比维度 FT‑371A(高阻型) FT‑361(常规低阻型) FT‑330 系列(单电测基础型) FT‑340 系列(双电测增强型)
方块电阻量程 10⁻⁴~10⁷Ω/□ 10⁻⁶~2×10⁵Ω/□ 10⁻⁵~2×10⁵Ω/□(FT‑331) 10⁻⁴~2×10⁵Ω/□(FT‑341)
电阻率量程 10⁻⁵~2×10⁸Ω‑cm 10⁻⁷~2×10⁶Ω‑cm 10⁻⁶~2×10⁶Ω‑cm 10⁻⁵~2×10⁶Ω‑cm
测试电流范围 10mA~200pA 1A~0.1μA 0.1μA~100mA 10μA~100mA
测试方法 双电测 双电测 单电测 双电测组合
电阻精度 ≤0.5% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3%
电流精度 ±2% ±0.1% ±0.1%~±0.3% ±0.1%~±0.2%
产品优势 覆盖高阻区间,适配宽阻值样品 低阻精度优,响应快 操作简单,成本低 抗干扰强,数据更稳

二、功能差异(实验室使用视角)

  1. FT‑371A:恒流输出、自动量程、高阻补偿算法、PC 软件精细数据分析,适配高阻薄膜、半导体高阻样品的研发测试。
  2. FT‑361:温度补偿、中英文切换、低阻优先自动量程,适合金属薄膜、导电涂层的质检与批量复测。
  3. FT‑330 系列:基础单电测、液晶直读、操作门槛低,适合教学实验、常规样品的基础电性能筛查。
  4. FT‑340 系列:双电测组合抗干扰、数据重复性好,适合对测试稳定性要求高的质检与研发场景。

三、典型应用场景匹配

机型 应用场景 适配样品类型
FT‑371A 高阻材料研发(如绝缘导电复合材料、半导体高阻外延层)、宽阻值范围对比测试 高阻薄膜、半导体高阻样品、电子元器件绝缘层
FT‑361 生产线配套实验室常规质检、低阻样品批量复检 金属薄膜、导电涂层、低阻半导体芯片
FT‑330 系列 基础教学实验、中小企业常规样品筛查、预算有限的基础测试 普通导电薄膜、常规半导体材料
FT‑340 系列 对数据稳定性要求高的研发项目、复杂环境下的质检 导电涂层、高均匀性半导体样品

四、选型逻辑(分场景决策)

场景 1:你的量程 10⁻⁵~10⁵Ω/□

  • 优先选FT‑361:量程完全覆盖,低阻段精度与响应速度,性价比高。
  • 预算有限选FT‑331(FT‑330 系列):满足基础测试,操作简单,成本更低。
  • 需抗干扰选FT‑341(FT‑340 系列):双电测组合,数据更稳定,适合复杂实验室环境。
  • 未来可能拓展高阻(>10⁶Ω/□)选FT‑371A:避免重复投资。

场景 2:其他常见量程需求

  • 测高阻(>10⁶Ω/□):选FT‑371A,高阻段稳定性与精度更优。
  • 测低阻(<10⁻⁵Ω/□):选FT‑361,量程下限至 10⁻⁶Ω/□,低阻测量更可靠。

五、选型建议

  1. 日常测 10⁻⁵~10⁵Ω/□:优先FT‑361,兼顾精度与效率,适配生产线实验室与常规研发。
  2. 预算有限的基础测试:选FT‑331(FT‑330 系列),满足单电测基础需求。
  3. 高要求研发或复杂环境:选FT‑341(FT‑340 系列),双电测抗干扰,数据更可靠。
  4. 需拓展高阻或宽阻值:选FT‑371A,覆盖 10⁻⁴~10⁷Ω/□,适配未来测试需求。

 

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2026/01/21
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